測溫精度高達1.5℃, 測溫重復性0.1℃，非常適用于晶圓的外延生長溫度測量

總范圍:

1.25°C至4000°C多種波長和光電探測器可供選擇，包括硅、InGaAs。
2‘速度:每秒高達1000個讀數。
3.分辨率:從0.001°C到1C
4。漂移:每年0.1攝氏度
5.**度:測溫精度1.5 oC
輸出:數字(RS232和RS485/422) 模擬電壓4-20mA0-10伏)提供以太網和自定義輸出

EXACTUS®光學溫度傳感器*初設計用于半導體溫度測量應用，在非接觸式溫度測量方面具有顯著的性能優勢。EXACTUS®高溫計的應用包括半導體、容器玻璃、玻璃纖維拉拔、塑料焊接、工業加熱、激光和超聲醫療技術。

新網站還包括產品圖紙、用戶指南和巴斯夫TemperaSure®。該圖形軟件使用戶能夠配置儀器設置，并記錄從EXACTUS®高溫計獲得的溫度讀數。

60多年來，巴斯夫一直為半導體、玻璃、太陽能電池、燃氣輪機、化學、晶體生長、熱處理和生物醫學行業提供**的高品質溫度傳感產品和校準服務。我們的重點是提供**的溫度測量，以滿足客戶苛刻的應用

典型應用

1.硅晶生長	2.薄膜沉積MOCVD
3.激光/感應焊接	4.玻璃加工